基于带约束的随机平台接口IP核的功能验证

• 作者: 孟庆东 李兆麟 陈佳佳
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: EMIF模块 IP核验证 可约束随机验证 参数化
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 17-20
• 分类号: TN4
• 字数: 2122字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2010.05.006

摘要

针对目前SOC设计中IP核的验证工作,分析与研究了基于带约束的随机功能验证,通过比较确定性的直接验证方法与可约束的随机验证方法,对独立设计的EMIF IP核进行验证.在此基础上,应用参数化的脚本文件生成和维护可约束的随机测试点.通过搭建验证平台分析了仿真接口输出响应以及仿真结果,表明该方法具有较强的灵活性与可维护性,同时能有效提高验证效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟庆东	清华大学微电子所	1	2	1.0	1.0
2	陈佳佳	清华大学微电子所	1	2	1.0	1.0
3	李兆麟	清华大学微电子所	8	92	4.0	8.0