基于PCIE的红外焦平面探测器测试系统

• 作者: 刘子骥 李伟 祝红彬 蒋亚东
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面 测试系统 PCIE
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 255-258
• 分类号: TN216
• 字数: 3552字
• 语种: 中文

摘要

介绍了一套自制高效的红外焦平面器件性能参数测试系统,建立了包括控制模块、辐射源、UFPA模块、信号采集模块和上位机程序在内的测试平台,分析了该系统平台的关键技术.系统可实现实时的数据采集,同时对RMS噪声、非均匀性、响应率、探测率、噪声等效功率和噪声等效温差等关键参数进行快速有效的计算分析,并能准确统计出盲元的数量和位置,分析、评估和存储器件每个像元的性能参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋亚东	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	318	2024	18.0	25.0
2	李伟	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	75	359	10.0	14.0
3	刘子骥	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	14	98	7.0	9.0
4	祝红彬	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	3	54	3.0	3.0