基于N400的事件相关电位在测谎中的应用

• 作者: 刘安丽 刘洪广 牟诹静
• 来源期刊: 武汉公安干部学院学报
• 学科: 政治法律
• 关键词: N400 事件相关电位 测谎
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 1-3
• 分类号: D918
• 字数: 2759字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9390.2010.03.001

摘要

N400是事件相关电位中反映语言加工的成分.目前对N400应用于测谎的研究几乎都是在实验室的条件下进行的,尚未应用于司法实践.随着事件相关电位应用于测谎研究的深入,N400将可能作为其中的重要指标之一.就目前的研究结果来看,欺骗比诚实的N400更为负向.欺骗与诚实之间在潜伏期头皮电位分布上没有检验出显著差异.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘洪广		68	125	6.0	8.0
2	牟诹静		2	4	1.0	2.0
3	刘安丽		2	4	1.0	2.0