电子辐照ITO/F46/Ag热控涂层的电学性能退化及损伤机理

• 作者: 丁义刚 冯伟泉 刘宇明 沈自才 赵春晴 郑慧奇
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 航空航天
• 关键词: 热控涂层 电子辐照 电学性能 损伤机理
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 1364-1368
• 分类号: V416.5
• 字数: 3270字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20102206.1364

摘要

对ITO/F46/Ag热控涂层进行了电子辐照地面模拟试验,探讨了其表面电阻率随电子辐照注量的退化规律,并借助扫描电镜(SEM)对其表面形貌变化进行了研究.通过SEM分析发现,涂层表面发生了严重的损伤效应,有裂纹、碎片和熔蚀现象出现.对涂层的损伤机理进行了分析,并给出了电子辐照ITO/F46/Ag热控涂层的表面碎裂损伤模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈自才		57	347	11.0	16.0
2	赵春晴		26	136	6.0	10.0
3	丁义刚		46	369	10.0	17.0
4	郑慧奇		28	115	7.0	9.0
5	刘宇明		38	223	8.0	13.0
6	冯伟泉		51	318	10.0	15.0