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摘要:
在一种基于InGaAs材料的短波红外线列探测器中,光敏元呈品字形排列.在使用该探测器进行推扫成像时,图像中发现了锯齿状的拖影.这种拖影的出现降低了图像的质量.研究发现,串扰是锯齿拖影的成因,而串扰有多种来源,如探测器光敏元的光串或电串、电路的带宽不够等等.为了确定串扰的真正来源,进行了基于平行光管的单光点实验.实验观察了探测器对单光点的响应,实验结果表明这种锯齿拖影是探测器读出电路的带宽不够造成的.在改进了探测器读出电路的性能后,消除了图像中的锯齿拖影.
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文献信息
篇名 线列探测器推扫成像中的锯齿拖影研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 锯齿拖影 串扰 读出电路 带宽 短波红外探测器
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 300-302,316
页数 分类号 TN911.73
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 危峻 中国科学院上海技术物理研究所 38 228 8.0 13.0
2 李雪 中国科学院上海技术物理研究所 64 465 12.0 19.0
3 蔡海蛟 中国科学院上海技术物理研究所 6 40 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
锯齿拖影
串扰
读出电路
带宽
短波红外探测器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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22
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