重采样移相技术在过程层IED中的应用

• 作者: 周丽娟 胡彦民 闫志辉 马朝阳
• 来源期刊: 电力系统保护与控制
• 学科: 工学
• 关键词: 重采样 过程层 IED 插值算法
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 64-66,71
• 页数: 4页
• 分类号: TM76
• 字数: 1568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2010.06.015

摘要

介绍了一种重采样相位补偿算法,该算法可对异步采样造成的相位误差进行补偿.分析了同步采样和异步采样的优缺点,介绍了重采样移相技术中常用的插值算法,在异步采样系统中应用抛物线插值算法,实现对采样值的相位补偿,并从理论上分析了该算法对工频信号中的基波和高次谐波的精度影响.经实验验证,对于采用异步采样模式的过程层IED,应用重采样移相技术可以达到补偿相位的效果,补偿后的精度能够满足电子式互感器标准的精度要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫志辉		12	171	7.0	12.0
2	胡彦民		5	32	2.0	5.0
3	周丽娟		2	53	2.0	2.0
4	马朝阳		2	126	2.0	2.0