刮膜式分子蒸馏装置中的液膜状态实验

• 作者: 许松林 郭凯
• 来源期刊: 天津大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 刮膜式分子蒸馏 电学测量法 液膜连续性 液膜厚度
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 化学工程
• 页码范围: 544-548
• 分类号: TQ021.1
• 字数: 3227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0493-2137.2010.06.013

摘要

采用电学测量法对刮膜式分子蒸馏过程中蒸发壁面上液膜的连续性和液膜厚度进行测量.根据蒸发器壁面上液膜分布对导电性的影响,通过对电压信号的分析,总结出判断壁面液膜连续性的判据:各点的电压必须非零且分布均匀;波动较大.根据液膜厚度与导电溶液电阻值之间的关系,得到了壁面上液膜的平均厚度在0.01 mm数量级;使用响应曲面法对实验数据进行处理,得到并验证了液膜厚度的二阶经验关联式.实验结果表明,对于刮膜式分子蒸馏装置,提高进料速度和转子转速有利于改善壁面上液膜的连续性,而且在不同进料速度下,影响液膜厚度的主要因素不同.研究结果为设计和使用刮膜式分子蒸馏提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许松林	天津大学化工学院	97	1131	18.0	29.0
2	郭凯	天津大学化工学院	21	73	5.0	8.0