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摘要:
随着IC设计技术和制造技术的发展和进步,集成电路芯片的集成度在不断提高,芯片密度呈指数增长趋势.硅晶片作为集成电路芯片的主要材料,尺寸越来越大.在分析国内双面抛光机典型机型原理和特点的基础上,针对运用于大尺寸甚至是直径400mm的硅晶片,提出高精度双面研磨抛光机在机械结构和控制系统等方面的改进措施,很好地解决了国内目前对大尺寸硅晶片加工难、加工精度不高等难题.
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文献信息
篇名 高精度大尺寸硅晶片的双面研磨抛光机改进设计
来源期刊 浙江海洋学院学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 大尺寸硅晶片 高精度 双面研磨抛光机 改进设计
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 586-590
页数 分类号 TG580.692|TG591
字数 4099字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1008-830X.2010.06.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李伟 浙江工业大学机械工程学院 57 397 11.0 17.0
2 胡晓珍 浙江海洋学院机电工程学院 22 98 6.0 9.0
3 陈毓 浙江海洋学院机电工程学院 7 37 2.0 6.0
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
大尺寸硅晶片
高精度
双面研磨抛光机
改进设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
浙江海洋大学学报(自然科学版)
双月刊
2096-4730
33-1404/P
大16开
浙江省舟山市
1982
chi
出版文献量(篇)
2175
总下载数(次)
1
总被引数(次)
13122
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