波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

• 作者: 王宝玲 田文辉 苏雄 赵永宏
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 波长色散X射线荧光光谱法 氧化钼 粉末压片 主次成分
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 28-31
• 分类号: O657.34
• 字数: 2128字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2010.04.006

摘要

采用粉末压片法制取试样,波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中的Mo、Pb、Cu、Fe、SiO_2、CaO、K等7种成分.对仪器参数、基体干扰、曲线拟合进行了研究,试验了各成分的通道类型、晶体类型、探测器类型、管压、管流等分析条件后确定了最佳分析参数.选择了与试样基体相匹配的定值样品建立校准曲线,采取经验系数法对基体效应进行校正.对于主次量组分,相对标准偏差低于1%(n=11).方法用于实际样品的分析,其荧光分析值与湿法分析值相符.方法能够很好满足氧化钼的主次成分分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田文辉	金堆城钼业股份有限公司监测中心	3	39	3.0	3.0
2	苏雄	金堆城钼业股份有限公司监测中心	2	11	1.0	2.0
3	王宝玲	金堆城钼业股份有限公司监测中心	1	10	1.0	1.0
4	赵永宏	金堆城钼业股份有限公司监测中心	1	10	1.0	1.0