磁场控制下的电子自旋量子系统参数辨识

• 作者: 吴庆林 张陈斌 陈宗海
• 来源期刊: 控制理论与应用
• 关键词: 量子层析 量子过程层析 量子系统辨识 量子控制系统
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 683-687
• 分类号: TP13|O413.1
• 语种: 中文

摘要

了解量子控制系统的性能参数是设计精确控制器的基础.为解决这一问题,本文基于量子过程层析,提出了辨识量子控制系统参数的方法,设计了以电子自旋磁场控制系统为对象的具体实验方案,并利用计算机仿真技术对其进行了模拟.仿真结果表明,辨识得到的量子控制系统参数与理论值较为吻合,达到了预定的准确度指标.结合理论分析和仿真结果可知,利用量子过程层析可以有效实现量子控制系统的参数辨识.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈宗海	中国科学技术大学自动化系	151	2270	25.0	40.0
2	张陈斌	中国科学技术大学自动化系	15	367	7.0	15.0
3	吴庆林	中国科学技术大学自动化系	32	284	10.0	16.0