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篇名 Calculation of Radius of Curvature for Strained Layer Structure and Fabrication of Semiconductor Microtubes on GaAs Substrate
来源期刊 材料科学与工程:中英文版 学科 工学
关键词 理论计算值 半导体薄膜 曲率半径 结构组成 砷化镓 应变层 GAAS(001) 微管
年,卷(期) clkxygczy-a_2010,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 20-23
页数 4页 分类号 TN304.055
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研究主题发展历程
节点文献
理论计算值
半导体薄膜
曲率半径
结构组成
砷化镓
应变层
GAAS(001)
微管
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
材料科学与工程:中英文A版
季刊
2161-6213
武汉洪山区卓刀泉北路金桥花园C座4楼
出版文献量(篇)
972
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