GaAs MMIC可靠性研究与进展

• 作者: 吴海东 庄志强 张增照 聂国健 莫郁薇
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 砷化镓器件 单片微波集成电路 可靠性 失效
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 国外可靠性与环境技术
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 分类号: TN454.06
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.01.007

摘要

介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状,给出了GaAs器件的几种失效模式和失效机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄志强	华南理工大学材料工程系	61	663	13.0	23.0
2	莫郁薇		7	30	4.0	4.0
3	张增照		11	56	5.0	6.0
4	聂国健		5	20	3.0	4.0
5	吴海东	华南理工大学材料工程系	1	8	1.0	1.0