一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现

• 作者: 何春 金建辉
• 来源期刊: 昆明冶金高等专科学校学报
• 学科: 工学
• 关键词: STC单片机 测试仪 中文界面
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 52-56
• 分类号: TN431.2
• 字数: 1786字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0479.2010.05.012

摘要

在数字电路实验中,大量使用一些基本系列的数字集成芯片,芯片的好坏和型号需要检测.市场上工程应用型测试仪价格较贵,不能测试实验室中很多数字芯片,且非中文界面显示.综合了现有的各类测试仪的优缺点,采用STC89C516RD+单片机和中文LCD设计了简易数字芯片测试仪系统,能够实现对数字电子技术实验中经常使用的逻辑芯片的好坏判别和型号判别,价格便宜,又能实现中文界面的交互.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金建辉	昆明理工大学信息工程与自动化学院	18	29	4.0	4.0
2	何春	昆明理工大学信息工程与自动化学院	13	19	2.0	3.0