浅谈电子产品的硬件测试技术

• 作者: 黄艳敏
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: 硬件测试 信号质量 时序 容限测试
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 16-17
• 页数: 2页
• 分类号: TP206
• 字数: 2289字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-623X.2010.02.004

摘要

随着对产品质量的进一步要求,在产品研发阶段的投入比例已经向测试倾斜,许多国际知名企业中硬件测试人员的数量要远大于开发人员.本文阐述了硬件测试的一般流程以及硬件测试技术的种类,分析了硬件测试的级别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄艳敏	东软飞利浦医疗设备系统有限责任公司高压研发部	3	39	2.0	3.0