篇名 | Accurate extraction of trap depth responsible for RTS noise in nano-MOSFETs | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | trap RTS noise nano-MOSFETs+Corresponding author. E-mail: mazhongfa@yahoo.com | ||
年,卷(期) | 2010,(3) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 467-470 | |
页数 | 4页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI |