电子产品测试点优化综述

• 作者: 宋秦 翟正军 郭阳明
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品 预测与健康管理(PHM) 综述 测试点 优化
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 189-192
• 分类号: TP319
• 字数: 4178字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6236.2010.08.055

摘要

电子产品故障预测是故障预测与健康管理技术的关键技术之一.基于此,对面向电子产品故障预测与健康管理的测试点选择及优化方法进行回顾.首先对该技术发展状况及相关技术进行综述,随后详细介绍了电子产品测试点的选取和优化方法,包括测试点优化过程中涉及的故障模式和危害性分析技术、电子设备的故障检测率与失效率的计算方法、电子产品测试点优化的一般步骤、测试点优化过程中需要解决的关键问题、电子产品的电路故障诊断方法的选取以及测试点优化算法和优化模型的选取问题,最后给出我国积极开展电子产品故障预测与健康管理技术的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭阳明	西北工业大学计算机学院	50	497	10.0	21.0
2	翟正军	西北工业大学计算机学院	159	1607	22.0	32.0
3	宋秦	西北工业大学计算机学院	2	16	2.0	2.0