基于FPGA/DSP的数字芯片测试仪

• 作者: 刘坤 刘磊 包本刚 周显恩 邹帅 陈凯
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: PC机 DSP FPGA译码 配置
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 42-45
• 分类号: TP27
• 字数: 2233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2010.07.015

摘要

提出了采用FPGA为核心器件设计数字芯片测试仪的设计思想,主要阐述了FPGA与DSP和数字芯片测试板之间的对地址/命令信号的译码和数据传输的实现.主要是通过DSP芯片时PC机测试命令的译码,并发送到FPGA芯片产生控制信号来控制数字芯片的测试,测试结果通过FPGA的现场采集发送到DSP芯片,再传送到上位PC机进行故障诊断.同时也介绍了采用单片机对FPGA进行配置,防止配置文件掉电丢失.测试表明:该系统具有很好的完整性,可靠性,准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包本刚	湖南科技学院电子工程与物理系	51	174	6.0	11.0
2	刘磊	湖南科技学院电子工程与物理系	5	18	3.0	4.0
3	邹帅	湖南科技学院电子工程与物理系	3	7	1.0	2.0
4	刘坤	湖南科技学院电子工程与物理系	3	7	1.0	2.0
5	陈凯	湖南科技学院电子工程与物理系	3	7	1.0	2.0
6	周显恩	湖南科技学院电子工程与物理系	2	7	1.0	2.0