一种易于线性压缩的测试图形生成方法

• 作者: 曹磊 梁峰 王震 雷绍充
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 测试图形 生成 测试压缩 低功耗
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 76-81
• 分类号: TN407|TP391.7
• 语种: 中文

摘要

为解决VLSI测试中数据量大、功耗高和故障检测难等问题,提出一种易于线性压缩的测试图形生成方法(LCG法).与传统方法不同,LCG法先解析出一类每个向量内部具有线性关系的测试序列,这种线性关系是基于单输入变化序列的,构成的测试序列可有效地减少被测电路内部的开关活动.测试生成时只需搜索测试向量少量的位值,其他位的值按预定义的线性关系解析出,再通过故障模拟的方法确认测试图形.压缩后的测试图形为其少量位的内容,具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点.对ISCAS89中5个最大的基准电路的实验结果表明,LCG法在固定故障覆盖率大于96%的情况下,压缩率都在10倍以上,甚至可以达到100倍以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁峰	西安交通大学电子与信息工程学院	42	263	9.0	15.0
2	雷绍充	西安交通大学电子与信息工程学院	17	53	5.0	7.0
3	曹磊	西安交通大学电子与信息工程学院	8	38	3.0	6.0
4	王震	西安交通大学电子与信息工程学院	4	30	2.0	4.0