工业CT含噪图像中的裂纹探测

• 作者: 曾理 李宗剑
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 工业CT 裂纹探测 快速Beamlet变换 噪声图像
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 信息科学
• 页码范围: 451-457
• 页数: 7页
• 分类号: TG115.281|TP391
• 字数: 4233字
• 语种: 中文

摘要

提出一种基于快速Beamlet变换的工业CT含噪图像的裂纹探测方法.首先,分析图像在单尺度下的Beamlet组成以及Beamlet间的相互关系,设计出一种快速Beamlet变换.基于快速Beamlet变换,引入一个关于吻合度的控制量,并结合Beamlet自身的多尺度树型结构,采取"自上向下"寻找目标函数最优值的思路,得到裂纹的探测结果.最后,结合探测结果的相邻区域的像素特性,提取出含噪裂纹的区域边界.分别对含有裂纹的CT图像,以及叠加方差为0.1的高斯白噪声图像,叠加强度为0.1的椒盐噪声图像进行探测实验.结果表明,与基于Laplace、Canny或小波的探测方法相比,该方法能有效探测到工业CT含噪图像中的裂纹.因为Beamlet是以线基的方式分析图像数据,所以该方法对噪声干扰具有很好的抑制能力,成功实现了工业CT含噪图像中的裂纹探测.