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惠瑞捷IC测试覆盖高中低领域
惠瑞捷IC测试覆盖高中低领域
作者:
丛秋波
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IC测试
3D
MEMS探针架构
惠瑞捷
摘要:
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惠瑞捷IC测试覆盖高中低领域
来源期刊
电子设计技术
学科
关键词
IC测试
3D
MEMS探针架构
惠瑞捷
年,卷(期)
2010,(4)
所属期刊栏目
产业聚焦
研究方向
页码范围
75
页数
1页
分类号
字数
1013字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1023-7364.2010.04.027
五维指标
传播情况
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2010(0)
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IC测试
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MEMS探针架构
惠瑞捷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子设计技术
主办单位:
中国电子报社
出版周期:
月刊
ISSN:
1023-7364
CN:
11-3617/TN
开本:
16开
出版地:
北京市
邮发代号:
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
5532
总下载数(次)
6
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