Cu吸附(SiO2)n(n=1-8)团簇几何结构和电子性质的密度泛函研究

• 作者: 刘岩 孙建敏 杨雯 王渊旭 王献伟 赵高峰
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 密度泛函理论 Cu(SiO2)n(n=1-8)团簇 近红外吸收
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 7830-7837
• 分类号: O6
• 语种: 中文

摘要

运用密度泛函理论下的广义梯度近似和交换关联函数对Cu吸附(SiO2)n(n=1-8)团簇的几何结构、电荷分布、稳定性和电子性质进行了较详细的研究,结果表明:Cu原子易于和带有悬挂键的Si原子作用并形成"铜岛膜";Cu吸附(SiO2)n团簇后Si原子失去电子能力减弱,O原子得到电子能力增强;Cu(SiO2)n(n=1-8)团簇与(SiO2)n(n=1-8)主体团簇稳定性上具有相似性,吸附Cu后团簇能隙明显降低,并接近近红外区域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙建敏	河南大学计算材料科学研究所	14	45	4.0	5.0
2	王献伟	河南大学计算材料科学研究所	17	49	4.0	6.0
3	赵高峰	河南大学计算材料科学研究所	32	84	5.0	7.0
4	王渊旭	河南大学计算材料科学研究所	23	73	6.0	7.0
5	刘岩	河南大学计算材料科学研究所	6	10	2.0	2.0
6	杨雯	河南大学计算材料科学研究所	1	2	1.0	1.0