用于特征X射线测厚仪的数据处理器电路设计

• 作者: 唐伟 屈国普 赵越
• 来源期刊: 湖南科技学院学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 数据处理器 单片机 测试
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 22-23
• 分类号: O571
• 字数: 1082字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2219.2010.08.007

摘要

利用特征X射线测厚是一种适用又方便的方法.数据处理器是测厚仪的重要部分之一,它具有数据采集和与电脑通信的功能.数据处理器包括脉冲整形和单片机系统两个模块;处理器工作正常,达到设计的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屈国普	南华大学核科学技术学院	103	338	9.0	11.0
2	赵越	南华大学核科学技术学院	39	56	4.0	5.0
3	唐伟	南华大学核科学技术学院	13	33	4.0	5.0