| 篇名 | Comparative studies of Ge and Si p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors with HfSiON dielectric and TaN metal gate | ||
| 来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
| 关键词 | Ge substrate transistor HfSiON hole mobility | ||
| 年,卷(期) | 2010,(5) | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 524-529 | |
| 页数 | 6页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 英文 | |
| DOI | |||