JTAG技术在PCB测试中的应用

• 作者: 刘军
• 来源期刊: 科技信息
• 关键词: 边界扫描 移位寄存器 板级测试 Tap Controller
• 年，卷（期）: 2010,（21）
• 页码范围: 848-849
• 页数: 2页
• 字数: 3444字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9960.2010.21.645

摘要

印刷电路板越来越复杂,完整的测试变得越来越重要.上世纪八十年代,联合测试行动工作组(JTAG)开发出边界扫描的测试规范,这个规范后来被制定为IEEE1149.1-1990标准.边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,基于边界扫描的PCB测试技术是一项成本低廉、高效、高覆盖率的测试技术,较好的满足了复杂PCB板级测试方面的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘军	中国电子科技集团第三十八研究所数字技术部	19	30	3.0	5.0