数字芯片溢出逻辑电路的设计与仿真研究

• 作者: 王颖 董江
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 溢出判断 电路设计 仿真
• 年，卷（期）: 2010,（22）
• 页码范围: 159-160,163
• 分类号: TN492
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.22.067

摘要

溢出逻辑现象是进行数字芯片电路设计时常会出现的一类现象,溢出现象会导致出现错误的运算结果,所以在电路设计时要重点考虑.如何正确得判断溢出现象是否产生及采取正确有效的手段来进行处理是本文主要讨论的问题.本文根据溢出产生的原理给出了解决溢出现象的算法,同时设计出对溢出现象能够正确进行处理的电路,并进行了仿真.T-SPICE仿真结果证明,该电路能正确得处理算术运算中出现的溢出现象.本文最后给出了一种溢出逻辑的改进电路设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王颖	深圳信息职业技术学院电子通信技术系	35	55	4.0	6.0
2	董江		4	8	2.0	2.0