电感耦合等离子体直接测定纯镉中杂质元素方法研究

• 作者: 卢鑫 孔建敏
• 来源期刊: 济源职业技术学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: ICP-AES 纯镉 杂质元素
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 工程技术研究
• 页码范围: 21-23,72
• 分类号: TG146.192
• 字数: 2035字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-0342.2011.04.007

摘要

建立了利用ICP - AES准确、快速、直接测定纯镉中Pb、Zn、Fe、Cu、Sn、Tl、Sb、As、Ag、Ni等10种杂质元素的分析方法,优化了ICP - AES的分析条件,采用标准基体匹配的方法消除基体效应.结果表明:Pb、Zn、Fe、Cu、Sn、Tl、Sb、As、Ag、Ni等十种杂质元素在0.05μg/ml～1.0μg/ml范围内有良好的均线性关系,相关系数均大于0.999;各元素的检出限在0.0009 μg/ml～0.0084μg/ml之间；相对标准偏差RSD＜ 4.80％；回收率在93.68％ ～ 104.41％之间.本方法能满足工业化生产纯镉中微量杂质元素快速分析的要求.