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摘要:
采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法同时测定了氧化铁皮中的铝、铜、钙、硅、镁、锰、钛、锌、磷等多种杂质元素。考察了熔剂、脱模剂以及预氧化条件等对熔片的影响;采用理论α系数校正了基体效应和元素间的干扰效应,方法的检出限在4.7-35.0μg/g之间。用本方法测定氧化铁皮试样中各杂质元素的相对标准偏差在0.4%-5.1%之间,分析结果与其他方法测定值一致。与化学法相比,该方法快速、简便、精密度好、准确度高。
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文献信息
篇名 波长色散X射线荧光光谱法同时测定氧化铁皮中的多种杂质元素
来源期刊 检验检疫学刊 学科 化学
关键词 X射线荧光光谱法 混合熔剂 氧化铁皮
年,卷(期) 2011,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 25-28
页数 4页 分类号 O657.34
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈永欣 32 243 9.0 14.0
2 黎香荣 25 207 9.0 13.0
3 罗明贵 17 119 7.0 10.0
4 马丽方 13 56 4.0 7.0
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X射线荧光光谱法
混合熔剂
氧化铁皮
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质量安全与检验检测
双月刊
2096-8876
10-1701/R
北京市朝阳区高碑店北路甲3号
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