宣传规格只是真相的一面

• 来源期刊: EDN CHINA 电子设计技术
• 学科: 工学
• 关键词: DSO 采样速率 存储器深度 Agilent Rohde and Schwarz,Tektronix,LeCroy
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 封面特写
• 页码范围: 28-30,32;34;35
• 分类号: TP316
• 字数: 3118字
• 语种: 中文

摘要

如果你正在考虑买一台新的示波器做高性能嵌入系统的调试工作，并且想知道要花多少时间示波器才能捕捉到与看似随机发生SUT（待测系统）故障有关的瞬息即逝的异常波形，那么．你不太可能从宣传的示波器规格中找到答案。捕捉异常波形的能力取决于那些鲜为人知，并且通常被错误理解的仪器特性。