基于置信分布和K-L信息距离的成败型产品可靠性分析

• 作者: 刘征宇 张建军 谢敬芝
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 置信分布 K-L信息距离 可靠性 Baves分析 二项分布验
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 320-324
• 分类号: TB114.3
• 字数: 3252字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2011.00320

摘要

针对成败型小子样产品可靠性试验现场数据少、具有多源先验信息的问题,基于K-L信息距离理论和试验数据置信分布方法,提出一种多源信息融合方法.利用K-L信息距离度量参数分布之间距离,从而确定不同权重融合多源先验分布,进而根据Bayes方法得到更加合理的验后分布.示例分析及对比验证了本方法的可行性和合理性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建军	合肥工业大学计算机与信息学院	109	1036	18.0	24.0
2	谢敬芝	合肥工业大学机械与汽车工程学院	1	4	1.0	1.0
3	刘征宇	合肥工业大学机械与汽车工程学院	67	680	15.0	23.0