TFT面阵探测器X射线数字透射成像

• 作者: 张祥春 张鹭 王曼 蔡良续
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 面阵列探测器 数字透射成像 检测参数 图像质量
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验,分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系,并给出了检测过程中应该注意的问题.具体试验表明:面阵探测器X射线数字成像系统在一定厚度范围内的检测效果(主要是图像的单丝像质计指数)优于同厚度的射线照相B级要求.