TD-LTE发射机杂散辐射的测试方法与实现

• 作者: 巩峰 钱光弟
• 来源期刊: 实验科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 杂散辐射 TD-LTE发射机 共站
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 7-9,36
• 分类号: TN98
• 字数: 2323字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4550.2011.02.003

摘要

杂散辐射是衡量基站性能的重要指标之一.文中用安捷伦科技公司最新发布的低档频谱分析仪CXA N9000A来测试TD-LTE基站发射机共站杂散辐射,采取外接低噪声放大器和带阻滤波器的方法,解决了测试过程中频谱仪灵敏度及动态范围不够的问题,降低了测试对仪器的要求和测试成本,实现了对-100dBm左右的共站杂散信号的准确测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱光弟	电子科技大学自动化学院	19	130	8.0	10.0
2	巩峰	电子科技大学自动化学院	1	5	1.0	1.0