TD-LTE基站杂散辐射测试方法的研究

• 作者: 高峻
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: TD-LTE 杂散辐射 分辨率带宽 视频带宽
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 仪器研制与开发
• 页码范围: 49-53
• 分类号: TN834|TH73|TN98|TN99
• 语种: 中文

摘要

深入理解TD-LTE基站杂散辐射的测试方法,可以为相关开发、网络规划或者优化提供客观标准.测试方法的深入研究通过三个方面展开:一是分析测试平台环境,二是讨论频谱分析仪相关设置的区别,三是对测量精度进行分析.结果表明测试系统精度主要由两部分组成:客观上依赖于频谱仪本身性能,同时选择合理的测试平台能够使得测试系统精度最优化；主观上依赖于通过对频谱仪的合理设置,能够使得测试结果反映微弱信号的实际功率电平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高峻		2	3	1.0	1.0