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摘要:
通过对特殊设计的GaAs/InGaAs量子点.量子阱光电二极管的I-V和C-V特性测试,验证了器件的光子存储特性,在器件的读出设计中引入了特殊设计的带倒空信号的基于电容反馈互导放大器和相关双采样(CTIA-CDS)型读出电路.在633 nm辐照下,分别改变照度和积分时间进行了非倒空和倒空测试的对比研究,并计算给出了对应的存储电荷变化量,进一步证明了光电器件的光子存储特性.
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文献信息
篇名 GaAs/InGaAs量子点-量子阱光电二极管的光存储特性读出
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 GaAs/InGaAs 量子点-量子阱光电二极管 光子存储 CTIA读出电路 倒空信号
年,卷(期) 2011,(5) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 281-283
页数 分类号 TN215
字数 2132字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.05.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 肖云钞 1 1 1.0 1.0
2 郭方敏 3 5 1.0 2.0
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2011(1)
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研究主题发展历程
节点文献
GaAs/InGaAs
量子点-量子阱光电二极管
光子存储
CTIA读出电路
倒空信号
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
总下载数(次)
13
总被引数(次)
30858
论文1v1指导