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摘要:
以UART总线接口为例介绍一种高性能验证平台.该验证平台基于SystemVerilog语言,以功能覆盖率为导向,通过带约束的随机方法产生测试激励,并具有自动检查运行结果及可重用性等特点.实践表明,与传统的验证平台相比,该平台在验证效率及功能覆盖率方面均有明显的优越性;与基于VMM搭建的验证平台相比,该平台也表现出了一定的灵活性、易操作性的特点.
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文献信息
篇名 一种可重构的通用总线接口验证平台的研究及实现
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 UART SystemVerilog 带约束的随机方法 功能覆盖率 VMM
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 电子电路设设分析及应用
研究方向 页码范围 350-354
页数 分类号 TP216
字数 3509字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2011.03.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘芳 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 195 1307 19.0 26.0
2 王新安 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 59 187 6.0 11.0
3 谢峥 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 9 83 4.0 9.0
4 连志斌 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
UART
SystemVerilog
带约束的随机方法
功能覆盖率
VMM
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导