微硅狭缝紫外-可见光谱仪杂散光的产生与抑制

• 作者: 吴一辉 郝鹏 黎海文
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外-可见光谱仪 杂散光 滤光片 微硅狭缝
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 737-742
• 分类号: O433.1|TH744.3
• 字数: 2551字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20111904.0737

摘要

采用MEMS技术,研制了一种基于微硅狭缝的紫外-可见光谱仪.介绍了该光谱仪的系统组成,分析了其杂散光的产生原因,着重讨论了光谱仪的关键部件-微硅狭缝的直线度、厚度与杂散光之间的关系,并对狭缝直线度产生的杂散光进行了实验验证.针对以卤钨灯为光源的紫外-可见光谱仪进行测量时,紫外部分能量低,杂散光严重的问题,提出一种组合滤光片法,通过在入射狭缝前和探测器前增加双重滤光片,平衡紫外-可见光范围内各谱段的光波强度,抑制紫外波长处杂散光的影响.实验结果表明:采用组合滤光片法抑制杂散光后,杂散光降低为抑制前的23%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴一辉	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	126	1121	18.0	27.0
2	郝鹏	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	20	77	5.0	8.0
3	黎海文	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	26	202	9.0	13.0