荧光分光光度法测定γ-(2,3环氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修饰的纳米二氧化硅表面的环氧基团

• 作者: 常志显 李德亮
• 来源期刊: 平顶山学院学报
• 学科: 化学
• 关键词: 荧光分光光度法 γ-(2,3环氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷 纳米二氧化硅 环氧基团
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 化学与化工研究
• 页码范围: 43-46
• 分类号: O657.3
• 字数: 2799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1670.2011.02.012

摘要

建立了荧光分光光度法测定γ-(2,3环氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修饰的纳米二氧化硅(GPTMS-Si02)表面环氧基团含量的方法.讨论了铵盐的种类和浓度、Ph值、乙酰丙酮的浓度、温度和时间对荧光强度的影响及荧光产物的稳定性.结果表明:当环氧基官能团的浓度在0.002 0～0.029 1 mmol·L-1范围内,荧光强度与其浓度呈良好的线性关系,r=0.9979.该方法重现性好、准确度较高,可用于GPTMS-SiO2表面环氧基团含量的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常志显	河南大学环境与分析科学研究所	37	215	8.0	13.0
2	李德亮	河南大学环境与分析科学研究所	80	781	17.0	24.0