一种基于ARM Cortex微控制器的相位差检测方法

• 作者: 刘世国 彭春荣
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 相位差 ARM Cortex处理器 微控制器 中断
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 信号与信息处理
• 页码范围: 600-603
• 分类号: TN919.5|TP273
• 字数: 1680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2011.05.016

摘要

针对周期信号之间的小相位差难以检测的问题,提出了一种基于ARM Cortex高性能微控制器,采用相位差放大处理技术的相位差检测方法,先使用放大器和比较器对初始信号进行处理,产生3个方波信号,然后利用ARM Cortex处理器I/O口的中断功能来检测相位差.根据本方法进行了系统的软件、硬件设计和实际信号测试,测试结果表明:信号在1 kHz时不确定度能达到2％.