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摘要:
采用离子注入法及退火工艺,在硅基二氧化硅薄膜中制备了镶嵌结构的天然Ge纳米晶样品.通过退火实验研究,发现随着退火温度的升高,纳米晶的晶态峰峰位红移,这意味着Ge纳米晶受到的应力减小.当退火温度达到700℃时,纳米晶的晶态峰强度显著增强,而且薄膜中与Ge有关的缺陷发光减弱.采用中子嬗变掺杂法对天然Ge纳米晶进行了掺杂,X射线荧光光谱数据表明,样品中成功的引入了Ga杂质和As杂质.薄膜中形成的与Ge有关的缺陷具有稳定的结构,中子辐照之后其发光仍然存在,而且,掺杂后的样品中没有发现与Ga或As有关的缺陷发光.
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文献信息
篇名 天然锗纳米晶的制备与中子嬗变掺杂研究
来源期刊 四川大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 天然Ge纳米晶 中子嬗变掺杂 拉曼光谱 X射线荧光光谱
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 物理学
研究方向 页码范围 651-654
页数 分类号 O469
字数 2196字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0490-6756.2011.03.031
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研究主题发展历程
节点文献
天然Ge纳米晶
中子嬗变掺杂
拉曼光谱
X射线荧光光谱
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
四川大学学报(自然科学版)
双月刊
0490-6756
51-1595/N
大16开
成都市九眼桥望江路29号
62-127
1955
chi
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