基于平均值余量的Wrapper扫描链平衡算法

• 作者: 俞洋 彭宇 陈叶富
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: SoC测试 Wrapper扫描链 平衡算法
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2290-2296
• 分类号: TP391
• 字数: 6362字
• 语种: 中文

摘要

测试问题已成为SoC发展过程中的瓶颈,提出一种新的Wrapper扫描链平衡算法以期缩短IP核测试时间.算法首先计算Wrapper扫描链长度平均值,再结合特定的余量值,计算得到一个取值区间,记该区间为平均值余量；然后将IP核的内部扫描链按其长度降序排列,每次均将最长的内部扫描链添加到某条Wrapper扫描链上,直到该Wrapper扫描链长度在平均值余量所指定的区间内为止.以ITC'02 SoC Test Benchmarks内的所有测试集为对象完成的实验证明本算法能极其有效的通过扫描链平衡设计缩短IP核测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞洋	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	24	285	9.0	16.0
2	彭宇	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	80	2316	24.0	47.0
3	陈叶富	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	1	23	1.0	1.0