托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为

• 作者: 卢洪伟 周瑞杰 林士耀 罗家融 胡立群 钟方川
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 托卡马克 电流爬升 逃逸电子 阈值速度 密度
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 2116-2120
• 分类号: O536|O532
• 字数: 3326字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20112308.2116

摘要

分析了电流爬升阶段等离子体密度和电流爬升率对逃逸电子行为的影响,研究了低杂波辅助电流驱动条件下的逃逸电子辐射行为.结果发现:电流爬升阶段等离子体密度的大小严重影响了电流爬升阶段甚至电流平顶阶段逃逸电子的行为,较低的等离子体密度将会导致放电过程中比较强的逃逸电子辐射;低能逃逸电子辐射随着电流爬升率的增大而增强;低杂波辅助电流爬升可以有效地节约装置的伏秒数;降低放电过程中的环电压,可有效抑制逃逸电子的产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡立群	中国科学院等离子体物理研究所	44	164	5.0	10.0
2	罗家融	东华大学应用物理系	36	352	9.0	17.0
3	林士耀	中国科学院等离子体物理研究所	14	37	4.0	4.0
4	钟方川	东华大学应用物理系	27	97	6.0	9.0
5	周瑞杰	中国科学院等离子体物理研究所	8	20	2.0	4.0
6	卢洪伟	东华大学应用物理系	4	7	2.0	2.0