光学元件干涉检测数据的定位处理方法

• 作者: 陈伟
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学检测 数控加工 边缘检测 随机误差
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 1191-1195
• 分类号: TN247
• 字数: 3102字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb20114008.1191

摘要

在光学元件的抛光阶段,通常采用干涉仪对光学元件的面形数据进行检测,为进一步的加工工作提供指导意见.为了利用干涉仪检测数据给出被测光学元件面形上的各点空间坐标准确位置,对面形数据的原始数据做二值化处理,用Sobel算子采用基于边缘检测的方法准确提取光学元件的外形轮廓数据,采用基于半径约束的最小二乘拟合方法对被测光学元件的内、外圆边缘数据进行多次处理,求取内、外圆的圆心位置,半径大小,根据等准确度测量原则获得光学元件面形数据的准确值,为在干涉仪检测所得面形数据上准确建立坐标系提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟	西安科技大学通信与信息工程学院	16	57	4.0	7.0