光学元件表面疵病快速检测分类方法研究

• 作者: 王俊波 范勇 陈念年 高玲玲
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 替换数组 形状因子 特征信息 分类准则
• 年，卷（期）: 2008,（27）
• 所属期刊栏目: 图像处理
• 页码范围: 306-307,312
• 页数: 3页
• 分类号: TP751.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.27.123

摘要

按ICF相关工程标准进行光学元件表面疵病快速检测是ICF系统中急需解决的问题.本文采用基于替换数组的标记方法和边界跟踪算法快速提取疵病的特征信息,然后利用大量疵病检测结果建立疵病特征信息库及疵病分类准则,提出了一种超大图像的自动快速检测分类方法.实验结果表明该方法能满足实时性需求,取得了较好分类检测效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范勇	西南科技大学计算机学院	77	624	12.0	20.0
2	王俊波	西南科技大学国防科技学院	20	208	5.0	14.0
3	陈念年	西南科技大学计算机学院	61	625	11.0	22.0
4	高玲玲	西南科技大学计算机学院	10	28	3.0	5.0