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新型高密度电路板的自动光学检测系统设计
新型高密度电路板的自动光学检测系统设计
作者:
武思远
汤晓华
熊光洁
聂学俊
马树元
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
机器视觉
高密度电路板
缺陷检出率
多色光源照明
自动光学检测系统
摘要:
为提高自动光学检测系统(AOI)的缺陷检出率,研究了一种采用多色光源照明,利用机器视觉荻取被测高密度印刷电路板(HDI型PCB)图像,通过图像处理快速准确地识别出各种缺陷的新型AOI.实验装置由主控计算机、电气控制系统、精密机械运动装置、多色光源照明和图像采集系统等组成.图像处理及识别软件基于OPENCV和VisualStudio2005开发,模块化设计,包括光源控制、图像采集、图像拼接、图像定位、路径规划、缺陷检测和缺陷统计等模块.实验结果表明,新型AOI系统可检出加载HDI型PCB的各种缺陷,缺陷的检出率可达99.9%,误报率只有0.3%.
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篇名
新型高密度电路板的自动光学检测系统设计
来源期刊
计算机工程与设计
学科
工学
关键词
机器视觉
高密度电路板
缺陷检出率
多色光源照明
自动光学检测系统
年,卷(期)
2011,(9)
所属期刊栏目
开发与应用
研究方向
页码范围
3218-3221
页数
分类号
TP216
字数
2678字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
马树元
北京理工大学机械与车辆学院
67
1188
18.0
33.0
2
熊光洁
北京理工大学机械与车辆学院
38
262
9.0
14.0
4
聂学俊
北京理工大学机械与车辆学院
33
176
8.0
12.0
6
汤晓华
北京工商大学机械工程学院
38
134
6.0
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9
武思远
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高密度电路板
缺陷检出率
多色光源照明
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研究起点
研究来源
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研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
计算机工程与设计
主办单位:
中国航天科工集团二院706所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7024
CN:
11-1775/TP
开本:
大16开
出版地:
北京142信箱37分箱
邮发代号:
82-425
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
18818
总下载数(次)
45
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