计算机控制光学抛光驻留时间求解中两类优化算法的分析

• 作者: 何建国 吉方 张云飞 王亚军 罗丽丽 黄文
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 计算机控制光学表面成形技术 驻留时间 优化算法 最小二乘法 最佳一致逼近
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 2011全国先进光学制造与战略新兴产业发展论坛暨学术会议论文
• 页码范围: 3239-3244
• 分类号: TH161
• 字数: 4014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20112312.3239

摘要

建立了基于矩阵计算的驻留时间计算模型,根据实际加工要求建立了最小二乘和最佳一致逼近最优化求解数学模型,总结了两类优化问题的求解方法.根据自研数学解法器,利用数值计算分析了这两类算法的计算特点.仿真结果显示,两种自研算法具有较高的计算精度,最小二乘逼近算法计算效率有待提高,对外界扰动和计算模型等误差不敏感,最佳一致逼近算法计算效率较高,但对误差比较敏感.实际加工时,如果面形精度已经比较高时,建议多采用最小二乘逼近算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张云飞	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	21	59	5.0	6.0
2	王亚军	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	33	155	7.0	10.0
3	何建国	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	56	300	9.0	15.0
4	吉方	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	83	322	9.0	12.0
5	黄文	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	49	206	7.0	12.0
6	罗丽丽	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	13	65	5.0	7.0