数字全息显微系统结构参量对再现像质的影响

• 作者: 李勇 王辉 邓丽军 马利红
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 数字全息显微 再现像质 放大倍率 记录距离
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 300-306
• 分类号: TB87.1
• 字数: 3050字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb20114002.0300

摘要

为了获取高质量的数字全息显微再现像,分析了同轴相移数字全息显微系统结构参量对再现像质的影响.首先经过计算得出理想成像时,像空间物光波频率完全由物体面形结构频率和系统放大倍率决定.然后基于显微成像时物光波的所有频率分量都应该被有效记录的分析,得出在同轴相移系统中放大倍率必须使物光波的空间频率缩小到满足采样要求;并得出在相同的放大倍率下记录距离会影响有效记录的物体尺寸,记录器件离开像平面的距离越小,有效记录的物体尺寸越大,在像平面上时有效记录的物体尺寸最大.计算机仿真和光学实验都证明了上述结论的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王辉	浙江师范大学信息光学研究所	107	701	15.0	18.0
2	马利红	浙江师范大学信息光学研究所	29	184	10.0	13.0
3	李勇	浙江师范大学信息光学研究所	79	696	15.0	21.0
4	邓丽军	浙江师范大学信息光学研究所	3	27	2.0	3.0