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摘要:
建立了一种简捷、实用的钼产品中硅和铝的电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)测定方法.精密度、回收率、检出限、标准样品分析对照均取得了满意的结果.方法的检出限为DL=0.000 1%(质量分数),Si和Al的回收率分别为98.5%~100.5%和99.5%~101.0%.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 ICP-AES光谱法测定钼产品中微量硅和铝
来源期刊 广州化工 学科 工学
关键词 ICP-AES 钼产品
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 123-125
页数 分类号 TQ13
字数 2168字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-9677.2011.03.047
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢明明 11 10 2.0 2.0
2 李巧红 3 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
ICP-AES
钼产品
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
广州化工
半月刊
1001-9677
44-1228/TQ
大16开
广州市石井石潭路潭村桥东
1973
chi
出版文献量(篇)
23355
总下载数(次)
68
总被引数(次)
56490
论文1v1指导