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摘要:
20世纪70年代以来,伴随计算机技术、大规模集成电路、可编程逻辑器件、高速数据信号处理器的迅猛发展,各种数字系统的设计、开发、检测任务越来越多,也越来越复杂了.数字电路系统所处理的信息都是用离散的二进制来表示,常用"1''来表示高电平,"0"表示低电平,多个二进制位的组合构成一个数据,我们称这一领域是数据域;该领域测试技术即被称为数据域测试技术,简称数据域测试.
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文献信息
篇名 基于FPGA逻辑分析仪的设计
来源期刊 科技信息 学科 工学
关键词 现场可编程门阵列 Verilog HDL FIFO 只读存储
年,卷(期) 2011,(17) 所属期刊栏目 IT论坛
研究方向 页码范围 110,93
页数 分类号 TP216.3
字数 1235字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-9960.2011.17.071
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱勇 武汉纺织大学数学与计算机学院 15 21 2.0 3.0
2 刘慧 武汉纺织大学数学与计算机学院 5 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
现场可编程门阵列
Verilog
HDL
FIFO
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研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科技信息
旬刊
1001-9960
37-1021/N
大16开
山东省济南市
24-72
1984
chi
出版文献量(篇)
124239
总下载数(次)
249
总被引数(次)
255660
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