作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
We investigated the effect of the deposition temperature of PZT thin films with thicknesses of around 100 nm on the piezoelectric response using an atomic force microscope (AFM). The preferred orientation of the PZT thin film was changed from (001) to (110) as the deposition temperature increased. The surface roughness of PZT thin films decreased with the increase of deposition temperature. The maximum amplitude of the piezoelectric response of PZT thin films decreased till the deposition temperature increased to 350°C. This tendency seems to be due to the change of the preferred orientation form (001) to (110). At over 450°C, this maximum value decreased due to both the increase of the surface roughness and the degradation of the crystallinity.
推荐文章
微波合成Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)粉体
PZT
粉体
微波合成
机理
SUB条款在租船实务中的运用
SUB条款
租船实务
租船人
出租人
NS100GT型100 t伸缩臂式铁路起重机的设计
铁路起重机
设计
结构
技术参数
LT码译码算法的研究
LT码
喷泉码
MPGE
译码算法
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 The Effect of Deposition Temperature of Pb(Zr,Ti)O<sub>3</sub>(PZT)Thin Films with Thicknesses of around 100 nm on the Piezoelectric Response for Nano Storage Applications
来源期刊 凝固态物理国际期刊(英文) 学科 工学
关键词 PZT AFM DEPOSITION Temperature ORIENTATION PIEZOELECTRIC Response
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 51-56
页数 6页 分类号 TB3
字数 语种
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
PZT
AFM
DEPOSITION
Temperature
ORIENTATION
PIEZOELECTRIC
Response
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
凝固态物理国际期刊(英文)
季刊
2160-6919
武汉市江夏区汤逊湖北路38号光谷总部空间
出版文献量(篇)
215
总下载数(次)
0
总被引数(次)
0
论文1v1指导