基于非参数统计的综合孔径图像弱小目标检测

• 作者: 倪炜 胡飞 陈柯
• 来源期刊: 华中科技大学学报：自然科学版
• 学科: 工学
• 关键词: 图像处理 综合孔径图像 微波辐射 非参数统计 目标检测
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 38-41,61
• 分类号: TP317.4
• 字数: 2914字
• 语种: 中文

摘要

针对综合孔径微波辐射图像中目标和复杂背景的边缘振荡对目标检测带来的影响,提出一种基于非参数统计的弱小目标检测方法.在对综合孔径辐射图像特征进行研究的基础上,采用非参数统计中的秩统计量描述图像中目标及复杂背景边缘的过渡纹理,给出综合孔径辐射图像的非参数统计描述模型,利用目标及复杂背景边缘各方向秩相关系数不同的特征,将目标与复杂背景有效地分离,实现对复杂背景的抑制和目标检测.仿真及实验结果表明该方法能有效地对综合孔径辐射图像中的弱小目标进行检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡飞	华中科技大学电子与信息工程系	37	247	8.0	14.0
2	陈柯	华中科技大学电子与信息工程系	15	56	4.0	7.0
3	倪炜	华中科技大学电子与信息工程系	4	21	3.0	4.0