荧光寿命的锁相检测技术

• 作者: 张恺 张玉钧 殷高方 王志刚 郭立泉
• 来源期刊: 大气与环境光学学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 荧光寿命 锁相环 相位 频率 单片机
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 光电技术
• 页码范围: 71-75
• 分类号: X853
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6141.2012.01.012

摘要

荧光寿命作为荧光信号的本征参量,其精确测量对于荧光检测和分析技术具有非常重要的意义.根据荧光信号的特点和荧光寿命的定义,介绍了荧光寿命锁相检测技术的原理,设计了基于锁相环电路的荧光寿命检测系统,并将该系统用于荧光法溶解氧测量,实验结果表明,荧光寿命的测量值与实际值相对误差小于1.5％,系统响应时间小于60 s,可实现荧光寿命的高精度实时监测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张玉钧	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	106	1009	17.0	27.0
2	王志刚	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	54	708	16.0	24.0
3	殷高方	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	16	97	4.0	9.0
4	郭立泉	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	11	54	4.0	7.0
5	张恺	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	5	10	2.0	3.0